Product Demonstration
符合標(biāo)準(zhǔn):
AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標(biāo)準(zhǔn)。
適用范圍:
適用于各種封裝形式的二極管、三極管、場效應(yīng)管、可控硅、IGBT單管等器件進(jìn)行高溫反偏試驗(HTRB)和高溫漏流測試（HTIR）。
技術(shù)特點(diǎn):
可實(shí)時監(jiān)測每個的結(jié)溫TJ。
實(shí)時監(jiān)測每個試驗器件的漏電流。
全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中，可輸出Excel試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。
